HP4285A LCR測(cè)試儀

HP4285A LCR測(cè)試儀主要特性與技術(shù)指標(biāo)

頻率

頻率范圍為75 kHz至30 MHz，以100 Hz步進(jìn)

基本精度

0.1%基本精度

測(cè)量時(shí)間

高速測(cè)量：30 ms/測(cè)量

更多特性

恒定的電壓(V)或電流(I)測(cè)試信號(hào)電平

帶有42841A的10 A直流偏置

表格掃描測(cè)量能力

HP4285A LCR測(cè)試儀描述

4285A精密LCR表是用于進(jìn)行元件和材料測(cè)量的精密、可靠、高速的解決方案。針對(duì)要求苛刻的射頻元件測(cè)試，4285A提供了從5 kHz至30 MHz更高的測(cè)試頻率范圍。無論是研發(fā)、制造、質(zhì)量保證或輸入信號(hào)檢查，4285A都能滿足您對(duì)LCR表的所有測(cè)試和測(cè)量要求。

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